二手 HANRA HRI 580L #9200946 待售

半导体工业使用HANRA HRI 580L晶片测试和计量设备对IC、晶片和元件进行全面分析和表征。它具有高分辨率成像系统、多角度散射测试单元和基于光谱仪的计量单元。成像机采用专门的数字显微镜，能够快速连续拍摄同一晶片不同部位的多幅图像。这允许对每个IC和每个组件的组成和对齐方式进行更详细的分析。该工具还具有内置网格形成和尺寸测量功能,以提供快速、精确的结果。多角度散射测试单元允许以三个不同角度对晶圆或元件进行详细分析。该单元测量各零件的尺寸、形状和方向等参数,以便提供有关其电气和物理特性的信息。这样可以优化工艺参数,并确保生产的每个设备的质量。基于光谱仪的计量资产采用光谱技术来测量晶圆或组件的化学、电气和光学特性。该模型可用于各种应用，如缺陷测试、确定污染物的存在以及分析电阻抗。使用此设备,用户可以在不到一分钟的时间内获得结果,从而实现更高效的生产工作流程。HRI 580L晶圆测试和计量系统提供了强大的组件组合，以协助IC和其他组件的表征和优化。其成像单元、多角度散射测试和基于光谱仪的计量机允许对每个零件进行详细分析，提供必要的数值，以确保生产运行成功并取得质量结果。