二手HERMES MICROVISION / HMI(晶圆测试、计量)待售

Hermes Microvision （HMI）是晶圆测试和计量设备的领先制造商。它们的产品旨在提高半导体制造工艺的效率和准确性。利用HMI晶片测试系统检测制造过程中半导体晶片的任何缺陷或不规则性。这些单元，如eP3 XP，采用了暗场检查等先进技术，允许识别各种缺陷类型，包括颗粒、划痕和图样偏差。这使制造商能够进行彻底的质量控制措施，并确保生产高质量的半导体晶片。来自HMI的计量机器，如Epointer2-VC和Epointer2，设计用于为半导体器件结构提供精确可靠的测量数据。这些工具采用扫描电子显微镜（SEM）和透射电子显微镜（TEM）等各种技术来精确测量关键参数，如尺寸、轮廓和材料成分。这使制造商能够验证其半导体器件的性能和质量,确保它们符合要求的规格。HMI的晶圆测试和计量资产提供了几个优点，包括高精度、快速的检测速度和全面的缺陷检测能力。这些模型为制造商提供了有价值的数据,以增强过程控制、提高产量并降低制造成本。总体而言，HMI的晶圆测试和计量设备是半导体制造商必不可少的工具，使它们能够实现高质量的半导体产品，并保持行业竞争力。