二手 HEXAGON METROLOGY Global Vantage #9363428 待售

HEXAGON METROLOGY Global Vantage是为大体积半导体工业而设计的功能强大的晶圆测试和计量设备。它使用最先进的技术来精确测量和检测晶片和基板上的缺陷。该系统具有全面的检查能力,并利用2D和3D技术检测各种潜在缺陷。Global Vantage提供了一个自动光学检查单元，用于对半导体和内存晶片进行高效、准确的表面检查。它配备了用于识别各种缺陷的内置工艺，如划痕、异物颗粒以及晶片和基板上的裂纹。该机器还采用了全面的CCD图像融合技术，使用户能够将每个晶片的正面和侧面视图相结合，以更好地分析它。该工具还提供了许多复杂的晶圆计量解决方桉。其晶圆表面映射资产提供了晶圆或基材地形的精确测量。它还支持各种先进的检测技术，如SEM、FIB、AFM和纳米显微镜，使用户能够快速识别最苛刻的半导体应用中的微观缺陷。这款功能强大、精密的机型可在最小停机时间内运行,并提供多种设备配置选项。该系统设计紧凑，易于集成，适合任何半导体生产环境。它还具有具有远程访问的通用软件界面，因此用户可以从任何计算机工作站访问和配置所有子系统。HEXAGON METROLOGY Global Vantage是检测晶圆和基板缺陷的强大而可靠的工具。其先进的计量解决方桉和自动光学检查功能为要求最苛刻的半导体生产环境提供了无与伦比的质量保证级别。无论是用于晶圆表面映射、缺陷检测,还是用于高级计量解决方桉,Global Vantage都是大容量半导体行业的理想设备。