二手 HITACHI G-S006-02-0012 #9377468 待售

HITACHI G-S006-02-0012是一种晶圆测试和计量设备，具有高精度和卓越的重复性，可确保半导体制造的最大收率。该系统提供卓越的性能、可靠性和成本效益，以满足半导体制造业日益增长的需求。G-S006-02-0012是一个全自动单元，可以快速准确地测试半导体晶片的形状、尺寸和其他物理特性。配备了接触式探测站、数字光学显微镜、高分辨率分析探测器和先进的嵌入式控制器，提供快速、精确的测试。这台机器是建立在一个紧凑的框架，占用最小的空间和降低成本。此外，HITACHI G-S006-02-0012具有广泛的适用材料，包括单半球、SCUBA型和SOIC型晶片。G-S006-02-0012上的接触式探测站用于测量半导体器件的物理尺寸。它具有一系列手动放置的探针与晶圆表面直接接触。探头配有电容传感器和感应传感器，用于检测晶圆的确切形状、大小和其他物理特性。接触式探头站还具有高精度的线性级，允许探头在晶圆上精确移动。HITACHI G-S006-02-0012提供的数字光学显微镜允许对晶圆表面特征进行微观检查。该工具配备了先进的复合光学资产，用于捕获晶圆表面的高分辨率图像。然后可以利用图像处理技术对图像进行进一步分析，以检测裂纹和微观轮廓等微小缺陷。该模型还提供了广泛的操作模式，如多层检查、像素级变焦和眼底成像。G-S006-02-0012还利用各种分析探测器准确量化晶圆的电性能。其中包括高范围扫描广域探测器（HRSA）和扫描成像探测器（SWID）。HRSA用于测量晶圆表面的电阻和电容，而SWID可以识别和定位电压中的小波动。这两个探测器在确保生产的半导体器件的质量方面都发挥着重要作用。HITACHI G-S006-02-0012为晶圆测试和计量提供了完整的解决方桉。其集成的设计、先进的功能和先进的探测器以经济实惠的价格提供了最佳性能。该设备使制造商能够快速准确地测试/检查晶片的形状、尺寸和其他物理特性,同时确保半导体制造的最大产量。