二手 IMS / NANOTECH LVIS-3+ #9248784 待售

IMS/NANOTECH LVIS-3+是一种高精度、自动化的晶圆测试和计量设备，设计用于半导体元件的质量控制。它利用先进的3D成像技术和各种分析工具和技术来精确测量晶片的电气和光学特性。IMS LVIS-3+提供了先进的光学和电气计量技术的独特组合，包括光学显微镜、电气参数测量和横截面成像。它也可用于检查和测量晶片边缘的特性，让用户准确识别缺陷、污染和其他问题。高度自动化的系统通过快速测试和测量过程支持大批量生产。全自动例程和简化的工作流程使用户能够快速高效地设置测试和测量。该单元提供的分辨率和准确度可降至纳米级,每秒可进行4,500次测量,使其适用于晶圆级成像和3D结构成像等高级计量测试。它还支持高温和低温测试，使其非常适合广泛的应用，从高精度医疗元件到更通用的半导体产品。自动化软件还为用户提供直观的数据分析功能和全面的报告生成器,以轻松评估结果。该软件还提供了多用途的出口选项,便于与其他工业工具集成,使其成为需要快速、准确地检查其产品的不同行业客户的绝佳选择。最后，该机得到IMS世界级技术支持和维护服务的支持，保证了最高水平的安全和可靠性。他们的全球客户解决方桉专家网络全天候提供帮助,并在需要时提供客户服务。总体而言,NANOTECH LVIS-3+是寻求高度自动化的晶圆测试和计量工具的客户的绝佳选择,该工具可轻松集成到其生产线中,并得到NANOTECH的卓越设计和客户支持。