二手 ISIS SENTRONICS SemDex 300 #9269325 待售

ISIS SENTRONICS SemDex 300是一种晶圆测试和计量设备，提供高效准确的晶圆缺陷分析、测量和分类。它采用透射电子显微镜（TEM）技术，方便高分辨率成像和3D地形映射。当结合使用时,这些功能可用于对各种电容和电阻样品进行缺陷检测、晶圆制造缺陷检测、无损计量和背面分析。该系统对光学采用双波长干涉仪，以便在测量到纳米级的结构时获得更高的精度。先进的精度水平确保了所有晶圆制造任务的高精度水平。此外,该单元还利用独特的通用参考技术来确保信息在计量机器和其他设备（如C-CAD软件、机器视景）之间准确收集和共享。SemDex 300还使用了专有的高公差扫描工具。这种高速扫描资产能够在短短几分钟内准确生成百万像素图像。这样可以有效地准确检测缺陷和工艺变化。此外,该型号还具有多种标准和自定义检查模式,包括亮场、暗场、自动索引和手动检查。在分析不同种类晶圆相关缺陷时，多种检测模式提供了一种可靠的方法。最后，ISIS SENTRONICS SemDex 300还提供了与其他软件工具和硬件解决方桉的集成。这允许用户利用软件的高性能处理功能来执行一系列其他任务。SENTRONICS SemDex 300能够在平台上构建定制的软件应用程序,以及自动数据记录和分析等功能,是一种功能强大且用途广泛的晶圆测试和计量解决方桉。