二手 ISIS SENTRONICS SemDex 301-2 #9228734 待售

ISIS SENTRONICS SemDex 301-2是一种晶圆测试和计量设备，专门设计用于全面表征各种类型的半导体结构。该系统由两个主要组成部分组成：一个高分辨率光学显微镜，能够对纳米级的结构进行成像；另一个模式识别单元，用于精确定位和测量结构内的各种特征。此外，该机还配备了一系列可选配件，如激光显微镜、共聚焦显微镜、拉曼光谱仪和a-scanner，为用户在进行详细结构分析方面提供了极大的灵活性。SemDex 301-2的核心是高分辨率光学显微镜，它能够成像到纳米级的结构。显微镜配备了多种物镜，使用户能够有效地对包括硅、金属和介电层在内的各种材料进行成像。使用先进的自动对焦技术将图像完全聚焦,从而确保一致的结果。再者，显微镜独特的光学构型允许高动态范围成像，导致极为详细的结果，并大大提高了所有尺度的测量精度。其次,ISIS SENTRONICS SemDex 301-2配备了高度复杂的模式识别工具,大大提高了特征检测和测量的准确性,特别是对于高密度结构。该资产甚至能够定位和测量最复杂的特征模式,如TSV、翻转芯片和介电层。从该模型获得的测量数据极其准确和可靠，因为它完全基于直接测量而不是假设。最后,SemDex 301-2除了具有令人印象深刻的一系列功能外,还配备了一系列可选附件,可以进行更大程度的结构分析。激光显微镜可用于电子特性的实时成像，而共聚焦显微镜和a-scanner可用于进行无损化学和物理测量。此外，还有一个拉曼光谱仪，可以对化学成分进行精确分析。总之，ISIS SENTRONICS SemDex 301-2是一种功能强大、用途广泛的晶圆测试和计量设备，提供全面的高分辨率成像和特征识别。该系统非常适合许多不同类型的应用，允许其用户自信地执行准确、可靠和详细的晶圆测试和分析。