二手 JORDAN VALLEY JVX 7300 #293744810 待售

JORDAN VALLEY JVX 7300是一种晶圆测试和计量设备，设计用于高效、精确的晶圆级分析任务。它允许用户对各种基板上的尺寸（如宽度、高度、突起、步高、半径、底部突起和其他度量）执行精确的测量。JVX 7300设计用于半导体制造和半导体封装的质量控制需求。该系统能够提供可靠、高分辨率的地表地形视图。这是利用先进的晶圆制图技术，利用空气轴承扫描技术实现的。高分辨率扫描结果允许精确测量,使工程师能够快速准确地评估和验证已完成晶片的质量。JORDAN VALLEY JVX 7300还具有几种计量仪器，包括非接触式3 D坐标测量机（CMM）、色差扫描显微镜（CA-SM）和扫描电子显微镜（SEM）。CMM可用于精确测量基板表面的高度、深度和轮廓。CA-SM能够探测微量元素的痕迹，表明空气中的微粒污染。SEM提供高分辨率图像,可以精确检查晶圆表面。此外，该单元先进的样本级扫描级允许用户测量电阻率、光学反射率、蚀刻深度、干涉图样等参数。扫描结果会自动存储和分析,以指示样品的电气、化学和机械特性。综上所述，JVX 7300提供了一个高度准确和稳健的晶圆测试和计量。利用其CMM、CA-SM、SEM的组合系统，用户可以精确测量晶圆的表面地形等参数。机器的自动化存储和分析功能可以加快质量控制和决策。