二手 KEYENCE LA-2010 #9253571 待售

KEYENCE LA-2010是设计用于半导体制造过程的最先进的晶圆测试和计量设备。它利用先进的技术来分析各种晶片的微观特性，如硅、砷化移铵和其他半导体。该系统具有广泛的测量和分析功能,包括纳米级测量、3D成像、缺陷分析和表面粗糙度测试。LA-2010配有两套集成光学系统，一套配有SEM（扫描电子显微镜），另一套配有干涉显微镜，可以通过多种方式对晶片进行成像和分析。这包括使用SEM成像，聚焦电子束扫描晶圆表面，创建分辨率高达15纳米的图像。利用干涉显微镜，KEYENCE LA-2010可以在纳米范围内精确测量晶圆的表面地形。该单元的三维成像能力使其能够准确识别晶圆上的缺陷。LA-2010还具有广泛的分析功能,例如缺陷和表面粗糙度分析,以及用于检测分层缺陷的图像分割。利用其模式识别技术，机器能够准确识别晶圆表面的模式。这在评估纳米级层和结构时特别有益。此外，KEYENCE LA-2010可以测量晶片的电阻率和介电特性，以及产生高精度的表面数字标高图。LA-2010是一个可靠和强大的工具，可以帮助半导体制造商确保其晶片的最高质量。该资产全面的特性和分析能力允许对半导体晶圆进行最精确的检验和测试。使用KEYENCE LA-2010,制造商可以快速有效地识别缺陷,分析晶片特性,并确保其晶片符合质量标准和客户要求。