二手 KEYENCE LK-G11 #9109318 待售

KEYENCE LK-G11是一种自动化晶片测试和计量设备，用于检查半导体晶片的各种缺陷和特性。该系统能够同时对多个晶片进行高精度测量和测试。该单元基于200 mm自动加载端口，可以接受TEL（Top Examination Loader）、FOUP（Front Opening Unified Pod）和JEDEC标本卡带。它能够使用专用显微镜进行模式识别，并配备了一系列具有各种表征功能的硬件和软件应用程序。它可以用于检查包括GaAs（砷化超）、Si （Silicon）、SiGe （Silicon-Gemanium）、SOI（绝缘体上的硅）、COO （Completical On-Off）在内的一系列半导体晶片。该机采用高精度测量功能，使用独立的光学和线性刻度进行精确测量。它还配备了多点参数映射的功能，可以同时测量和检查晶圆上的几个点，并且可以在单个晶圆上精确测量产品特性。还可用于分析产品的电气特性，检测和测量微观层面的缺陷，如划痕、碎屑、桥梁缺陷，以及产品的地形和表面污染。该工具的高级软件允许在晶圆上轻松获取数据，具有多个变量和计量功能。它还能够生成具有图形化晶圆图和统计报告功能的报告，允许以各种方式分析测量数据。LK-G11提供了一种可靠和准确的方法来检查和测试各种不同的晶圆样品和产品，使其成为从事半导体晶圆加工和计量的实验室的宝贵工具。