二手 KEYENCE LK-G87 #9011593 待售

KEYENCE LK-G87是一种晶片测试和计量设备,能够自动检查晶片的缺陷、测量参数以及识别和评估设备特性,从而使用户能够快速准确地监控和评估晶片的质量。该系统集成了先进的技术，如非接触式光学和激光扫描，以实现测量精度和可重复性，意味着它能够在半导体制造过程中快速自动监测各种工艺，从而提高效率和提高产品产量。该设备具有高速扫描速度和强大的平台,非常适合测试和分析具有挑战性的生产环境。由于其先进的光学缩放机和多角度扫描能力，它还具有高速精确测量高端设备的能力。这样可以提高分析精度和吞吐量速度。此外，LK-G87有一个自动化的处理工具，以帮助快速、安全和高效地处理晶片。此资产减少了处理所花费的时间,并产生了快速可靠的结果。晶圆测试和计量模型还可以测量诸如栅极氧化物厚度、栅极间距、接触孔尺寸、表面粗糙度等物理参数。此设备能够同时支持2D和3D配置文件,因此非常适合分析具有复杂拓扑结构的晶圆上的特征。此外,为了简化测量和分析过程,KEYENCE LK-G87提供分层检测功能和深度比较程序,用户可以通过该程序检查晶圆上的多层是否在精确公差范围内。此外，系统还提供了缺陷检测模块，以帮助识别可能出现在晶圆表面上的任何潜在缺陷。该单元能够自动定位和标记对象，大大减少了查找任何类型缺陷的时间和工作量。最后，该机配备了先进的设备生产分析能力来评估设备特性，使用户能够非常详细地测量和评估其部件。总之，LK-G87是一个最佳的晶圆测试和计量工具，用于准确和有效的检查。KEYENCE LK-G87结合了快速扫描、卓越的精确度、自动化处理能力、缺陷检测模块和设备生产分析功能,提供了卓越的功能,以确保高质量的晶片具有更高的效率。