二手 KIC THERMAL SlimKIC II #114986 待售

KIC THERMAL SlimKIC II脉冲晶片测试和计量设备是一种为高速晶片测试而设计的先进红外扫描仪。该系统由红外相机、垂直扫描台和精密定位器组成。高分辨率照相机利用最新技术，在没有接触的情况下从样本中收集数字数据，从而实现快速、准确的计量测量。精密定位器确保在测量前将样品精确定位在舞台上。垂直扫描阶段提供快速、高精度的扫描能力。SlimKIC II单元设计用于在检查过程中快速可靠地检测晶片中的异常。利用图像分析算法快速识别主要缺陷和次要缺陷。该机器能够检测出小的表面缺陷，如凹陷的芯片、桥接、擦伤和结点损坏。该工具的高级成像功能使其能够检测样品表面的温度变化,从而提供了管理热测量可靠性的有效方法。KIC THERMAL SlimKIC II资产支持广泛的计量应用，包括步高测量、平坦度和微几何测量以及电阻测量。它的光学显微镜能力无与伦比，使它能够测量精细的表面结构和任何对比的差异。它能够检查各种材料，包括硅和其他半导体材料，以便进行快速和高效的测试。SlimKIC II机型可靠性高，使用方便。它在温度控制的环境中提供快速而准确的测试，允许准确和可重复的测量结果。设备也具有很高的灵活性，允许用户快速、轻松地对测试设置进行更改。KIC THERMAL SlimKIC II脉冲晶片测试和计量系统具有先进的技术、直观的控制和卓越的性能,是进行精确、精确的高速晶片测试的理想选择。该设备是任何实验室或生产设施的宝贵资产，其成本效益使其具有极高的价值。