二手 KLA / TENCOR 3440D-12-8004-SA #293665812 待售

KLA/TENCOR 3440D-12-8004-SA是一种晶圆测试和计量设备,旨在提供快速、准确和可重复的IC晶圆测量。该系统能够在多达8个不同级别同时检查单面和双面设备。该单元由3440D InLine晶圆扫描仪、3400系列光学临界尺寸（OCD）机和3400 R500自动探针工具组成。3440D扫描仪使用视线或"零阶"照明技术来捕捉晶圆的图像，并允许精确测量地形和结构特征。3400系列强迫症资产利用激光干涉测量技术，对IC晶片的特性进行高度精确的尺寸测量。3400 R500自动探针模型使晶圆探测能够确定每个电路和芯片的电气特性。KLA 3440D-12-8004-SA是晶圆测试和计量的经济高效、可靠的解决方桉。它是可扩展和可升级的,允许灵活的配置以满足特定的需求。该设备的设计考虑了人体工程学因素，以提供无与伦比的易用性，并确保用户的最佳安全。它的高级编程功能提供快速、准确的测量和数据分析,以及自动化的例行任务。该系统符合1D和2D条形码标准,允许高效的数据检索和存储。它也与多种类型的晶片兼容，包括陶瓷、薄膜和堆叠晶片。TENCOR 3440D-12-8004-SA是寻求改进晶圆测试和计量过程的制造商的理想解决方桉。其先进的功能和精确的测量可以降低总体成本，同时确保产品质量。该单元的可扩展性和可定制性使其适合广泛的应用，从生产线到研发。3440D-12-8004-SA是制造商希望提高晶圆测试和计量能力的理想工具。