二手 KLA / TENCOR 4500 SURFSCAN #9252530 待售

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ID: 9252530
晶圆大小: 6"
优质的: 1992
Wafer inspection system, 6" Circuit board currently nonfunctional Damaged parts 1992 vintage.
KLA/TENCOR 4500 SURFSCAN设备是半导体工业中用于晶圆校准和测试的晶圆测试和计量系统。该单元为先进节点技术的测量和分析提供了无与伦比的精度和精确度。它采用高速扫描进行连续测量,并利用先进的成像技术准确识别和表征缺陷。机器可以检测和精确测量晶圆地形和轮廓特征,包括不同的拓扑、轮廓和微观结构。该工具专为高吞吐量性能而设计。它支持多晶圆同时分析,每点以1-3秒的速度获取地形测量,这取决于晶圆的大小。还可以在100 μ米的范围内获取高分辨率图像。车载数字视觉有助于检测小颗粒和其他缺陷。该资产为用户提供全面的测试选项,并支持晶圆平面度验证、厚度测量和表面粗糙度测试。其较大的动态范围允许在200毫米至300毫米的各种晶圆尺寸上进行测量。该模型是专门为精确测量先进节点结构而设计的,如超微米长度的重复结构和薄的多层结构。其他功能包括用于图像分析的可靠软件工具,允许轻松检测和分析关键缺陷。设备使用的自动化算法和视觉技术提高了缺陷定位的速度和准确性。该系统配备了用于确定和分类污染、缺陷、模式识别和其他材料故障的先进能力。KLA 4500 SURFSCAN单元是半导体行业的强大工具。它为先进节点技术的测量和分析提供了无与伦比的精度和精确度,从而提高了产量和工艺控制。它提供了一系列测试选项,并具有大的动态范围功能和高吞吐量性能,以提高生产环境中的效率。
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