二手 KLA / TENCOR 5107 #9120918 待售

KLA/TENCOR 5107晶片测试和计量设备是一种先进的技术，能够对半导体晶片进行精确的测量、测试和表征。该系统使用先进的光学和显微传感器检测晶圆表面的微观缺陷，并测量其物理特性。该装置在高真空状态下工作，以消除任何可能干扰测量的尘埃颗粒。KLA 5107机器具有集成的晶圆处理工具,允许晶圆在三个维度上移动,从而实现更精确的测量和测试。集成测量臂具有一系列传感器，能够一次测量多片晶圆。资产利用高级分析软件来分析从传感器收集的数据，并生成详细的晶圆图和过程报告。与其它晶圆测试和计量系统相比,TENCOR 5107模型具有许多优点。由于先进的光学设备和集成的晶圆处理设备，它可以测量较小的缺陷。它还能够测量晶片厚度的变化，捕捉表面张力和附着力的特性，从而影响半导体器件的性能。5107系统包括一个用户友好的图形用户界面,可从PC和移动设备访问,从而完全控制测量和测试过程。该单元还可以轻松地与现有软件和数据库同步,从而实现与现有生产管道的无缝集成。KLA/TENCOR 5107机器是专为在洁净的房间环境中运行而设计的,在这种环境下提供卓越的性能。该工具配备了提高性能、降低污染风险的高效空气冷却资产、净化模型和真空室。该设备还旨在通过减少测量和测试晶片所需的人工来降低成本。自动化系统（如KLA 5107）能够加快测试周期,并且比手动流程更准确。它们的使用还可以减少由错误和缺陷引起的成本。总体而言，TENCOR 5107晶片测试和计量系统是测量和测试半导体晶片的先进可靠工具。与其他计量系统相比，该单元提供了无数的优势，例如能够测量较小的缺陷、用户友好的界面和自动过程，这可以节省成本和时间。