二手 KLA / TENCOR 5300 #9161978 待售
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已售出
ID: 9161978
优质的: 2001
Overlay measurement system
Hardware configuration:
Chuck: 8"
Handler: Open cassette with PRI dual end-effector robot
Cassette type: Dual open cassette
Line conditioner: Yes
Network: Yes
Signal tower: No
UPS: Smart-UPS 500
Main console: Yes
Load port: 8"
(2) Open cassette stations
VME:
CPU Board: Yes
Memory board: Yes
Video (Matrox) board: Yes
I/O Board: Yes
PZT Controller board: Yes
I/O Adapter board: Yes
Motion and controller:
Power supply: Yes
X Driver board: Yes
V Driver board: Yes
Z Driver board: Yes
T Driver board: Yes
L Driver board: Yes
XYT Stage: Yes
PM Target: Yes
Z Motor: Yes
Host chuck: 8"
Z PZT: Yes
PCB and pneumatics panel:
I/O Interface board
PZT Driver board
Interlock board
Pressure panel
Vacuum panel
Flotation module:
IDE Controller
(8) Motors
(3) Proximity sensors
(3) Hard stop
LINNIK and AMS:
HLS Lamp housing: Yes
Dual aperture: Yes
LLG: Yes
LlNNIK Camera: Yes
PIN Diode array: Yes
P PZT: Yes
Shutter: Yes
AMS Camera: Yes
Power module:
P Power transformer (Line conditioner): Yes
AC Compartment: Yes
Main DC power supply: Yes
HLS Power supply: Yes
Software configuration:
Operation system: Windows NT 4.0
Computer configuration:
CPU: Pentium II 400 MHz
RAM: 256M
(2) Hard drive disks: 9G
Floppy drive: Yes
CD ROM: Yes
Tape driver: Yes
Monitor: Yes
Thermal printer: Yes
Keyboard / Tracking ball: Yes
Facilities:
Input power: 225VAC, 50/60 Hz
Computer input power: 110 VAC
Input vacuum: 25 Inches Hg
Input CDA: 97 - 110 PSI
Handler check:
Robot: Yes
End effector: Yes
Pre aligner: Yes
L Cassette: Yes
R Cassette: Yes
Currently crated
2001 vintage.
KLA/TENCOR 5300晶片测试和计量设备是一种用于分析和确定半导体晶片质量的高度精确的系统。它采用超高速激光扫描仪,能够在短时间内以惊人的精度测量晶圆尺寸、平坦度和厚度。该单元的主要功能包括高速激光扫描仪、图像分析软件以及集成软硬件包。激光光学能够快速高效地扫描整个晶片,提取所有必要的数据,如边缘、线长、线宽和其他表面特性。图像分析软件随后从激光机器获取读数,并生成晶圆表面的数字地图,用于生成报告、绘图和其他数据输出。收集到的所有数据都存储在一个大型数据库中,可以随时访问。集成的软硬件包为用户提供了强大的工具,可以快速准确地测量复杂的表面形状,并确定晶圆中的任何异常或缺陷。刀具根据收集到的数据自动计算每个晶片所需的校正参数。KLA 5300晶圆测试和计量资产提供了详细的报告,用于质量控制和产品开发,以及评估工艺变化对晶圆质量的影响。它是一个高效可靠的模型,具有用户友好的界面,用户可以快速高效地执行常规和特定的检查和分析操作。它的准确性和能力范围使其成为任何半导体制造商或实验室的宝贵工具。
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