二手 KLA / TENCOR 6200 Surfscan #293739429 待售
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ID: 293739429
晶圆大小: 8"
Particle inspection system, 8"
Maximum wafer capable, 8"
Pentium PC
Sensitivity:
Defect: 0.12µm
Defect map and Histogram
Haze map and Histogram
Argon Ion Laser
2D Signal integration
Parallel printer port
Blower box
SECS II Communication port
Windows OS
Operations manual and documentation.
KLA/TENCOR SFS 6200是一种高性能晶片测试和计量(测量)设备,设计用于对半导体模具和晶片的特性进行准确可靠的测量。它利用先进的成像技术和极其精确的力板技术来精确测量晶圆级和器件级特征。该系统能够测量各种基本特性,包括模具尺寸和形状、均匀性和位置精度、器件临界尺寸、边距深度以及漏电电流和电阻等电性能。该设备的前沿成像技术由先进的专有算法和传感器提供动力,确保了极其准确和可靠的结果。该机器的成像功能提供了晶片的完整计量覆盖范围,使客户能够详细了解晶片级别的特性,如粘合和缝合、微污染和模模不均匀性。此外,该工具的成像资产利用快速、简单的自动对焦和自动送出功能实现了流程优化。该模型还具有可靠、坚固的力板技术,能够用三个高速力传感器精确测量器件临界尺寸(CD)、边缘平滑度和斜角深度等器件级特性。这使客户能够快速识别晶圆中的问题区域并立即采取纠正措施。该设备还提供快速设置和转换功能,使客户能够快速高效地执行测试。此外,系统的机载计算机提供了对测量过程的所有步骤的全面控制,包括自动化操作。此外,KLA SFS 6200通过与KLA Eagle质量管理软件轻松集成,确保了高质量保证。此软件为客户提供实时数据分析和简单的过程控制,以实现完整的批量级控制。总的来说,TENCOR SFS6200机器在半导体模具和晶片的测试和计量方面提供了无与伦比的精度和可靠性。凭借先进的成像技术和力板技术,客户可以快速轻松地测量其晶片和设备的基本特性,从而提高性能、效率和质量保证。
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