二手 KLA / TENCOR 6200 #64476 待售
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已售出
ID: 64476
晶圆大小: 2" - 8"
Particle Measurement Tool
Capable of 2" - 8" wafers
Currently configured for 8" wafers, PA-172 Cassettes
Non-patterned surface Inspection System.
KLA/TENCOR 6200是一种晶圆测试和计量设备,旨在提供快速的过程监控和快速的数据分析。KLA 6200是一个自动化系统,能够测量晶片的表面和厚度特性、处理大量数据、识别异常以及对多个样本进行分类和跟踪。该单元有一个晶圆支持平台,即盒式磁带和装载机,其中晶圆被装卸。TENCOR 6200配备了包括白光干涉仪(SLIM)、散射法、光学反射法、散射光度法和3D表面剖面仪在内的多种计量工具。SLIM通过大气加压来降低晶圆表面大气污染的风险。此外,6200可以同时执行非接触和接触计量。对于数据分析和状态监控,KLA/TENCOR 6200与KLA IntelliWafers软件集成。IntelliWafers是一套集成软件应用程序,旨在准备、分析和报告晶圆检测数据。它提供了一整套功能,包括对工艺晶片进行自动统计分析的能力,以及实时的工艺监控。IntelliWafers可以生成报告和数据图,从而深入了解关键流程指标以及流程变化和异常的趋势。吞吐量方面,KLA 6200每小时最多可测试300件。它还可以很容易地集成到各种其他系统中,包括在线和离线系统。此外,它可以配置为满足各种应用的需求,包括测试高长宽比晶片。综上所述,TENCOR 6200是一款高效的晶圆测试计量机,能够提供快速的过程监控、快速的数据分析和全面的报告。其广泛的特性使其适合各种应用,高速吞吐量使其能够快速处理大量数据。最后,该工具与IntelliWafers软件集成,可确保自动统计分析、实时过程监控和全面数据分析。
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