二手 KLA / TENCOR 6410 Surfscan #9288820 待售

KLA/TENCOR 6410 Surfscan是一种用于半导体制造的晶圆测试和计量设备。它旨在测量晶圆表面的表面质量、检测污染、不规则的表面形状和表面缺陷。该系统每小时最多可以检查和分析30个晶圆，提供详细的测量和检查结果。KLA 6410 Surfscan具有高分辨率的计量单元,结合了干涉技术,利用光学干涉原理检测晶圆表面污染物和损坏缺陷。它为薄膜厚度和晶圆表面测量提供了快速、准确的数据。TENCOR 6410 Surfscan具有紧凑的设计，使其能够在洁净室和其他晶圆制造设施中适应狭窄的空间。它利用灵敏度设置根据需要提高或降低准确性,允许用户根据需要推动或降低分辨率以获得所需的结果。6410 Surfscan设计为可靠且低维护,占用空间小,运行节能。它的两头扫描机允许精确的晶圆测量和映射，解决了广泛的半导体应用。它支持狭窄的间隙缺陷测量,以及高达几毫米的较大缺陷测量。该工具具有识别缺陷的高级算法，提供了晶圆不均匀性和不规则性的理解。除了支持多种晶片类型外，KLA/TENCOR 6410 Surfscan还拥有一套软件工具来简化晶片测试、数据分析和芯片级性能评估。它可以集成到自动晶圆测试和缺陷审查过程中。它的数据分析和图形软件允许用户研究和了解随着时间推移的趋势，快速分析数据并获得可操作的结果。KLA 6410 Surfscan专为半导体行业的恶劣环境而设计，从一项资产提供可靠的测试和计量服务。它提供了快速的结果,使用户能够有效地解决制造难题并释放其生产过程的潜力。