二手 KLA / TENCOR 6420 Surfscan #293822127 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX 6420 Surfscan是一款晶圆测试和计量设备，设计用于半导体器件的性能和质量保证。6420系统可以在最现代的先进封装和设备上快速准确地检测缺陷和表面特性，包括高密度翻转芯片设备和光学元件。该单元使用先进的图像分析和先进的机器学习技术来检测小的结构和参数缺陷，以及与标称值有较大偏差的缺陷。6420机器通过扫描获取高分辨率、高质量的晶片图像，进行非接触晶片表面测试和计量。该工具采用真空控制的闭环对峙扫描工艺，能够对大型基板上的晶圆特征进行快速、准确和可重复的测量。这可以提高晶片与晶片的对准精度，并允许对范围广泛的电子封装和设备尺寸进行可重复扫描。该资产提供了广阔的视野和高动态范围,允许检测微观和纳米缺陷,同时允许测量设备特性（如颠簸、扩展器和尺寸）。这有助于识别非模具变异，特别是那些太小而无法被人眼察觉的变异。该模型能够在单个扫描中检测数百个较小的缺陷和变化,以及在单个模具上扫描数百个模式定义。KLA 6420 Surfscan提供了一个直观且用户友好的界面,用于构建数据集和开发配方。该设备具有先进的参数选择和统计分析能力，可以比较从一个批次到另一个批次的检测结果。这可以帮助识别未知缺陷,并最大限度地减少额外测试的需求。该系统还提供了广泛的可视化选项,允许用户快速查看结果。TENCOR 6420 Surfscan提供了一个集成的缺陷审查单元,它为边缘粗糙度或不规则性、污染和芯片提升等最常见的指标提供了高效的缺陷审查和大小调整。自适应缺陷映射功能使用户能够轻松地检测和隔离感兴趣的缺陷。此外,该机器支持高性能数据传输,允许将数据快速、安全地传输到其他系统。该工具还支持多种文件类型,从而可以轻松地与其他系统和数据源进行协作。对于高级产品,资产支持各种专门的缺陷映射功能和高级特征分析,以确保最大质量保证。6420 Surfscan专为性能和质量而设计,为各种半导体器件和封装提供强大的测试和可视化功能。它是安全高效地检查先进电子元件的质量参数并进行高精度、可重复测量的理想解决方桉。