二手 KLA / TENCOR 7700 Surfscan #65199 待售

ID: 65199
Wafer inspection system 8" Chuck.
KLA/TENCOR 7700 Surfscan是一种高性能晶片测试和计量设备,设计用于半导体晶片的分析和检验。它用于查明晶片上的缺陷并获得关键的测量数据以提高产量。KLA 7700 Surfscan快速、准确地对齐、扫描和处理晶片,并采用先进技术准确识别、表征和测量潜在缺陷。TENCOR 7700 Surfscan系统的关键特徵包括高速数位模式识别(DPR),使其能够高精度地侦测和测量模式;快速扫描和处理时间,使设备能够快速分析和测量晶片;集成缺陷打印检查(DPI)和总光刻缺陷报告(LDR)。7700 Surfscan能够检测和测量晶片上的各种潜在缺陷,例如桥接、开放连接和针孔,以及可能对晶片性能产生负面影响的污染物和颗粒。此外,机器的自动缺陷分类技术可以快速而准确地对缺陷进行分类和测量。KLA/TENCOR 7700 Surfscan有一个光敏工具,可以为晶片的分析和扫描提供安全的设置。高分辨率成像数据以多种格式存储,包括TIFF、For Eval、Focal Plane和JPEG。这允许用户生成包含详细图表、图形和图像的复杂报告,以更好地分析晶圆的属性。它还拥有一整套功能强大的软件工具,用于编程用于晶圆分析和测试的定制配方,以及自动纠正操作。KLA 7700 Surfscan为用户提供了用户友好、直观的图形化用户界面,使用户能够快速高效地调整设置。资产速度极快,效率极高,为长期分析提供了准确的数据。而其先进的技术使得它成为测试和计量程序的优越选择。该模型常用于大批量生产设置,以提高质量控制,降低成本,提高工艺产量,最大限度地提高晶圆产量。对于任何需要快速、准确分析和详细计量数据的应用来说,这是一个极好的选择。
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