二手 KLA / TENCOR 7700M Surfscan #131420 待售

KLA / TENCOR 7700M Surfscan
ID: 131420
Patterned Wafer Inspection System.
KLA/TENCOR 7700M Surfscan是一种高精度、高速晶圆测试和计量设备,设计用于对各类半导体晶圆进行精确的表面测量和缺陷检测。它具有业界最高的吞吐量和分辨率,被半导体制造商用来确保其产品的质量。KLA 7700M Surfscan包括多项先进技术,使其能够实现高性能。系统的核心是多通道检测体系结构(MDA)。这是一种光学设计,采用先进的传感技术和图像处理算法,以无与伦比的精度生成晶圆表面的图像。该单元还利用专门的高分辨率扫描级,使其能够以高度精确的二维网格图样快速成像晶圆表面。此外,它还包括一个自动缺陷分类机,可以用来识别和定位晶圆上的缺陷使用机器学习算法。该工具具有很高的适应性,可用于测量包括内存、逻辑、逻辑集成电路和显示应用在内的多种晶圆类型。测量参数也可根据所测试晶圆的类型进行调整。它能够收集多种指标,包括扫描间距、位置精度、表面粗糙度和缺陷大小,这些指标都可以用来评估晶圆的质量。TENCOR 7700M Surfscan是任何希望最大限度地提高产品质量和可靠性的半导体公司的宝贵工具。它是同类中唯一的晶圆测试和计量资产,提供无与伦比的精度和速度,同时也高度适应不同的晶圆类型。通过提供评估晶圆质量的可靠和准确的方法,该模型可以帮助确保制造保持一致并生产高质量的产品。
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