二手 KLA / TENCOR 7700M Surfscan #293627334 待售

ID: 293627334
优质的: 1996
Wafer inspection system 1996 vintage.
KLA/TENCOR 7700M Surfscan是一种高精度晶圆测试和计量设备,用于监控和控制设备制造过程的质量。该系统可以快速、准确地测量地形、轮廓、临界尺寸和纳米级特征。KLA 7700M Surfscan利用扫描电子显微镜(SEM)扫描步进楔形、掩模图桉或晶片基板。这款扫描电子显微镜带有自动聚焦、高压电源、X射线探测器、二次电子探测器和高级控制软件等先进功能。该单元的高级成像功能得到其高分辨率变焦光学和强大的分析工具的进一步补充,这些工具包括统计特征提取、缺陷分类、污染分析、产量管理、3D可视化、视频测量等。扫描电子显微镜完成数据采集过程后,TENCOR 7700M Surfscan机器允许用户分析和评估数据,必要时还可采取纠正措施。这种成像和分析数据可以帮助确定最佳蚀刻速率、开发流程改进协议、预测故障率以及避免潜在的产量损失。7700M Surfscan还提供了一种自动的prober接口工具,允许获得精确的测量值,如临界尺寸、地形和完全蚀刻电路的粗糙度。此资产还包括高性能摄像头和高级光学设备,可实现精确的3D扫描功能。通过深入了解制造过程和集成的计量功能,KLA/TENCOR 7700M Surfscan为半导体行业的质量监控、跟踪和控制提供了强大而可靠的解决方桉。此模型旨在为用户提供尽可能最准确和可靠的分析数据,使他们能够保持尽可能高的质量标准,并减少因错误或效率低下而造成成本高昂的返工、停机、报废和产量损失的风险。
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