二手 KLA / TENCOR 8450 #9316169 待售

ID: 9316169
Critical Dimension Scanning Electron Microscope (CD-SEM).
KLA/TENCOR 8450是一种晶圆测试和计量设备,在半导体器件和材料的测量和分析方面提供最高水平的精度和质量。该系统在广泛的关键计量应用程序中为生产和质量控制提供一流的性能。KLA 8450的先进技术旨在满足这一微电子关键领域高产量、提高可靠性和商业智能的严格要求。它支持晶片级分析,从晶片几何到特征大小、表面纹理和薄膜厚度,以及光和其他物理分析的能量分布。TENCOR 8450集成了高级功能,可实现精确、一致和受控的可重复测量,可用于各种应用程序。该装置的高端光学表面成像技术使得能够在纳米尺度水平上进行精确的图样识别和尺寸测量。此外,8450还提供了多种技术,用于轮廓测量、厚度测量、成像、临界维度计量、3D分析等。该解决方桉还附带了一套晶圆检查软件,可针对不同的客户需求实现灵活性和快速设置。KLA/TENCOR 8450提供了一个交钥匙机器解决方桉,可最大限度地提高正常运行时间,并且易于集成到任何实验室和生产环境中。其特点包括高精度、可重复性和稳定性、可靠的行业领先传感器、用户定义的测试参数、可靠的晶圆自动化解决方桉以及出色的客户支持。总体而言,KLA 8450使晶圆测试和计量变得简单、准确、高效。它在关键半导体材料的测试和分析方面提供了最高质量,使用户能够始终如一地产生可靠和高产的结果。
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