二手 KLA / TENCOR AIT 1 #182433 待售

KLA/TENCOR AIT 1是一种前沿晶片测试和计量设备，旨在高效地测量、分析和评估半导体晶片的各种参数。它提供实时反馈，使操作员能够在生产的每个步骤优化工艺参数并评估工艺结果。为便于晶圆测试,KLA AIT 1采用KLA专利OptoScribe™技术。这种获得专利的光学系统确保了最佳的测量精度，能够检查纳米尺度的晶圆表面和结构。它还可以测量从20-40 μ m到几纳米的各种缺陷大小。TENCOR AIT 1提供了一套独特的光学和声学传感功能,有助于确保晶圆测试的可靠性和精确度。例如,该单元能够进行高度精确的角度测量。它还具有检测和评估低功耗成像和原位地形图测绘缺陷的能力。AIT 1可容纳各种各样的晶圆大小和配置,包括高级2D和3D晶圆。它还提供了一种自动缺陷分类（ADC）机器，能够有效地将有意义的结果与背景噪声分离。该工具还配备了先进的软件工具，便于实时分析测试数据，以及详细的报告生成。此外,它还具有独有的可追踪性功能,使操作员能够快速准确地跟踪和记录测试过程中的步骤。这有助于确保流程可重复性和质量控制。在硬件功能方面,KLA/TENCOR AIT 1提供了广泛的选项。其中包括用于晶圆定位和扫描对准的可编程运动表、高对比度BGA检查头和自动感应反馈模块。所有的软件和硬件组件协同工作，以保证从KLA AIT 1资产结果的准确性、精确度和质量。总体而言，TENCOR AIT 1是需要高效、可靠晶圆测试和计量的半导体制造商必不可少的工具。其令人印象深刻的一系列功能、先进的软件和硬件功能,以及强大的可追踪性模型,使其成为质量保证的首选。