二手 KLA / TENCOR AIT 1 #188810 待售

KLA/TENCOR AIT 1是一种先进的晶圆测试和计量设备，专门设计用于确保精确和可靠的测量。该系统旨在分析多种不同的样品类型，包括裸模、成品器件、通硅通孔和铸造晶片。晶圆测试和计量单元采用先进光学、成像系统、扫描技术和计算机控制自动化的组合。光学显微镜可以检测和测量微观缺陷的存在和大小，而成像技术则捕获样品图像进行分析。一系列光学系统被用于高分辨率检查电气特性，如接触垫、微凸点和粘合垫。扫描探针技术允许详细分析模具地形和电气测试结构，如晶体管和二极管。为了便于自动分析，KLA AIT1机器包括了一系列计算机控制的模式识别算法。这些算法能够准确识别可能难以用肉眼识别的微观小缺陷的存在。这些算法还能够执行质量控制测量,如计数设备、缺陷定位和模模比较。该工具结合了高级数据处理功能来处理所获取的数据。高级统计和分析方法用于以图形和直方图格式显示和分析数据,帮助确定样本中的任何潜在问题。测试结果存储在集成数据库中,以便于访问和查看。该资产旨在为用户提供可靠、可重复的结果,并能够在人工干预最少的情况下分析高样本计数。这使得TENCOR AIT1模型成为质量控制和生产线测试的理想工具。该设备配备了一系列功能和选项,可提供高精度、快速的测量速度、出色的可重复性以及易于使用的界面,帮助即使是新手用户快速熟练使用该系统。