二手 KLA / TENCOR AIT II #293585798 待售

KLA/TENCOR AIT II是半导体IC制造商先进的晶圆测试和计量设备。该系统为关键电气、光学和几何器件参数的表征提供了高精度测量，从而优化了开发和制造过程。KLA AIT II提供了多种晶圆测试和计量平台。其集成计量学平台使用获得专利的光学技术来获得一系列特征大小的准确和可重复的测量，以及轮廓和图像度量。该平台收集关键特征信息,例如线宽、互连和触点的空间和高度测量以及模版图,以支持快速优化过程。该单元还能够分析三个维度的轮廓和图像数据,从而全面了解复杂的设备结构。该机器独特的电气测试工具提供高频、数字和模拟集成电路的测量以及广泛的专业,并提供灵活、高速的测试能力。该资产还为各种表征仪器提供了接口，从电气延迟线测试仪到矢量网络分析仪。TENCOR AIT II还为检查和组装提供了完整的综合计量，包括用于基板、封装和板测量、检查和表征的各种光学器件。提供高精度的三维测量能力，用于分析薄膜厚度和微缺陷，以及微结合结构的检测。该模型还提供了一个全面的数据管理解决方桉,用于高效收集、存储、检索和报告测量结果。数据库可以支持多种测试策略,并自动生成报告以改进业务智能。AIT II是无损后续晶片测试的强大解决方桉,提供配备了先进技术和集成数据库解决方桉的高精度测量功能,非常适合满足当今半导体制造商的需求。