二手 KLA / TENCOR AIT II #293767209 待售

ID: 293767209
Defect inspection system.
KLA/TENCOR AIT II是下一代晶圆测试和计量设备,具有一系列先进的功能。它提供灵活、集成的工作流程,是寻求提高产量、提高生产率和降低维护成本的半导体公司的理想选择。该系统配备激光干涉仪、交流耦合光投射系统,提供纳米级精度。这样就能够精确测量非常小的特征,并以极高的精度检测任何晶圆缺陷。它同时记录高达32,000点,使其成为目前市场上最强大的晶圆测试系统之一。KLA AIT II还提供了复杂的分析工具,可用于确定任何缺陷或异常的原因和来源。这个单元带有包括显微镜成像、X射线和三维图像在内的多种分析输出格式。这使用户在故障分析过程中具有很大的灵活性。TENCOR AIT II凭借其快速扫描功能还拥有卓越的吞吐量速率。这使得它非常适合需要快速结果的大批量生产线或环境。该机器比前几代晶圆测试系统更加灵活,可以配置为针对不同的需求优化性能。AIT II的自动化功能,除了扫描速度外,还允许用户将其操作与现有软件系统集成。这样可以最大程度地减少耗时的配置和校准过程,从而为用户节省时间和金钱。它还允许捕获更精确的晶圆数据,从而产生更好的产量结果。此外,KLA/TENCOR AIT II的低维护设计减轻了频繁的维护访问和更换部件的需要,降低了总体维护成本。该工具还配有一系列附件,包括安装夹具、电缆和安全眼镜,使其成为晶圆制造工艺的一个有吸引力的选择。总体而言,KLA AIT II提供了高级、精确的测试功能、自动化功能和增强的性能,因此物有所值。其卓越的准确性和灵活性确保它能够快速高效地处理一系列测试过程。因此,它是晶圆测试和计量中最全面的解决方桉之一。
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