二手 KLA / TENCOR AIT II #9249021 待售

KLA / TENCOR AIT II
ID: 9249021
优质的: 2000
Defect inspection system 2000 vintage.
KLA/TENCOR AIT II是来自KLA Corp.的一种最先进的晶圆测试和计量设备,专为半导体制造商和研究机构而设计。KLA AIT II集成了多个传感平台,提供现场晶圆测试和计量与一个紧凑的系统。该单元为高级工艺控制提供自动化、准确和可重复的计量数据,并允许进行全半导体晶圆测试、表征和分析。TENCOR AIT II具有一套先进技术,包括集成的标线(用于晶圆的光学对准和临界边缘定义)、多个成像系统(包括直接和反射光学显微镜、电荷耦合器件相机)、非接触式光学轮廓仪、自动化和精确的样品定位系统、晶圆映射的光谱成像能力以及自动晶圆处理系统。AIT II通过自动化测试、实时可视化、全面的数据分析以及集成多个映像系统等高级功能,提供无与伦比的性能。该机器具有集成的软件算法,能够进行全面的数据处理和分析,包括自动缺陷检测。实时表面计量功能允许精确和可重复的计量结果,从而实现更快的晶圆测试和高精度鉴定。此外,KLA/TENCOR AIT II还具有可互换的成像和测量模块,可灵活配置不同的应用程序。该工具特别适合于小规模生产要求或工艺开发举措以及大型工业Fab业务。KLA AIT II是一种强大的晶圆测试和计量资产,使半导体制造能够实现更高的精度和质量控制,更好的效率,提高产量。它的先进技术为晶圆鉴定提供了全面、自动化、准确和可重复的测试,从而实现了高精度计量和数据驱动的过程优化。TENCOR AIT II具有多种多样的配置和可靠的可重复性,为工业和研究用户提供了理想的解决方桉。
还没有评论