二手 KLA / TENCOR AIT II #9284347 待售

KLA/TENCOR AIT II（原子信息工具）是为微电子可靠性和过程控制而设计的先进晶圆测试和计量系统。它使复杂半导体器件的测试自动化，使制造商能够准确分析器件变质，评估短期和长期的可靠性。KLA AIT II利用领先的光学、电气和机械技术进行在线、在线生产监控和过程控制。TENCOR AIT II的光学测量能力包括测量表面粗糙度的激光反射仪、测量薄膜收缩和扭曲的剪切成像单元、测量光源的红外成像系统、测量器件表面特征的临界维度站以及分析器件微观结构的扫描电子显微镜。AIT II的电气能力包括测量器件特性的电气探测站和测量器件线路电阻、电容和电感的阻抗计。KLA/TENCOR AIT II的机械能力包括一个用于测量封装变形的扭转级、一个用于测量振动感应应力的振动级以及一个用于测量模具附着应力的弯曲夹具。KLA AIT II的软件套件设计用于控制、通信和从电子元件如非易失性RAM、EEPROM、Flash、NOR和NAND内存、ROM和ROM总线、微处理器和其他电子元件收集数据。它还提供了在生产环境中与流程控制系统集成的功能。它能够执行自动测试序列并提供自定义报告。TENCOR AIT II还能够使用统计过程控制工具监控生产过程。其内置算法随时间监测存储的设备数据，以检测过程漂移和变化。此外,预测建模使用设备模板数据来确定过程漂移和预测未来设备性能。这使工程师能够快速识别超出规格的条件并采取纠正措施。AIT II旨在支持多种语言,并提供安全、可跟踪的数据和记录保存。其用户友好的界面和模块化设计使系统易于配置、维护和故障排除。KLA/TENCOR AIT II提供高精度的大样本集和快速上市时间。KLA AIT II是高质量、高价值生产过程控制的理想选择。