二手 KLA / TENCOR AIT II #9292762 待售

KLA/TENCOR AIT II是一种晶圆测试和计量设备，设计用于从半导体晶圆提供精确和可重复的测量。该系统利用先进的人工智能快速准确地分析数据，并产生可靠的结果。该单元能够测量各种参数，包括电气、光学和物理特性。它还提供了一系列的检查能力，如高分辨率晶圆成像、化学机械平面化（CMP）分析和后光刻膜评估。KLA AIT II机器被设计为提供高水平的准确性和可重复性，最小的操作员干预。可通过一系列不同的设备来定制该工具,以满足特定的需求,从而满足各种生产和测试环境的需求。该模型以先进的视觉和运动资产控制为基础,利用高端光学、图像识别、位置编码器和自动运动控制来实现所需的精度和准确性。提供机器参数反馈的传感器阵列可确保设备以最高性能运行。TENCOR AIT II系统还集成了提供高级测试功能的大量高级算法，如缺陷检测和边缘放置精度分析。该单元还包括复杂的流程优化算法，如流程参数分析、检测设计-规则违规、监控流程趋势和机器利用等。该机器可以很容易地集成到现有的生产线或作为一个独立的单元使用。它是高度可配置的，允许在不同的布置中使用多个传感器和测量工具。这样可以实现最大的灵活性和可扩展性,以满足不断变化的行业的需求。总之,AIT II是一种强大可靠的晶圆测试和计量工具.它提供了一系列特性和功能,使其能够满足生产和实验室环境中的相同需求。其精密的算法以及先进的视觉和运动控制资产使其高效高效。这使得它成为任何半导体测试环境的宝贵工具。