二手 KLA / TENCOR AIT II #9377284 待售

KLA/TENCOR AIT II（Advanced Inspection Tool）是一种晶圆测试和计量设备，设计用于快速检查和分析大型晶圆上的缺陷。它提供了一个高度可靠的解决方桉，以确保晶片被正确处理，不包含任何缺陷。KLA AIT II由一个功能强大的自动化系统和一个X射线探测器组成，能够在短短15秒内以超高精度检查整个300 mm晶圆。该单元可以检测外来和天然粒子，灵敏度与半导体工业使用的最先进的方法相当。利用照相成像，机器能够识别、测量和分析甚至很小尺寸的缺陷。该工具的软件可配置为检查多达20种不同类型的缺陷,并且可以校准到低至1纳米的精度水平。为了保证高精度，TENCOR AIT II的晶圆计量资产采用了标准光学技术和激光衍射相结合。这个先进的计量模型允许快速、准确的缺陷测量，甚至能够检测到最小的缺陷。该设备还具有多种功能，旨在提高准确性和效率。这些功能包括自动缺陷检测系统、缺陷检测归档、粒子轮廓数据、缺陷检测序列构建器、操作员界面和图像后处理工具。KLA还开发了一系列硬件和软件选项，让用户能够调整单元以满足其特定需求。这些选项的例子包括增加了高分辨率显微镜、第三代准直检测器和自动校准机。除了令人印象深刻的功能外，AIT II是最方便用户的晶圆测试和计量系统之一。它拥有一个用户友好的界面,并附有全面的文档,可帮助用户快速、准确地设置和操作其系统。综上所述，KLA/TENCOR AIT II是一种功能强大、可靠的晶圆测试和计量工具，能够为广泛的晶圆检测和分析需求提供快速、准确、经济高效的解决方桉。