二手 KLA / TENCOR AIT UV #9124364 待售

KLA/TENCOR AIT UV是一种自动化晶片测试和计量设备，设计用于精确检测和测量半导体晶片上的缺陷。它用于评估晶片的质量，以满足集成电路（IC）制造工艺的高速和精度要求。该系统基于先进的光学成像技术，具有紫外线和纳米傅立叶变换红外（FTIR）显微镜两种不同的最先进的光学系统。紫外线显微镜捕获高分辨率和低噪声水平的图像数据，而FTIR显微镜则便于化学分析和检测晶圆表面的颗粒。此外，它还配备了自适应、自定位激光扫描技术和自动聚焦装置，用于快速和精确的成像和测量。KLA AIT UV被设计为一种便携式、机载机器，能够测量各种晶圆缺陷，包括坑、划痕、颗粒物、透明颗粒、颠簸和翘曲。也可用于检测异常，进行晶圆表面分析。为了提高灵活性,该工具包括多种工具,如驱动程序、晶圆映射软件和KLA专有的AlignToVision高精度对齐控制。对于高数据保真度,该资产包含数字信号处理器,以支持高级图像和数据处理。为了进一步提高精确度，它采用微机电系统成像技术进行精细关联和高分辨率测量。此外,TENCOR AIT-UV还提供有关晶圆特性的反馈,例如对比度、背景、清晰度、噪声和异常值检测。AIT UV的其他特性包括多种测试模式、通过web界面进行远程操作、强大的模型后备保护以及对各种SEMI标准的支持。这种设备还被设计为满足环境和工业安全要求，允许在恶劣的制造环境中使用。总而言之,KLA AIT-UV是一个强大的质量控制系统,它以合理的价格提供可靠、高分辨率的成像和计量功能。它允许更快、更准确的测量,并提供详细的反馈和见解以提高生产效率。