二手 KLA / TENCOR AIT UV #9161154 待售

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ID: 9161154
晶圆大小: 12"
优质的: 2004
Darkfield inspection system, 12" P/N: 0083710-000 2004 vintage.
KLA/TENCOR AIT UV是一种高度专业化的晶片测试和计量设备,设计用于检查和测量半导体晶片上的关键特征。这种晶圆测试系统配备了紫外线激光源和先进的光学器件,以便对晶圆表面进行快速、准确、可靠的检查。KLA AIT UV单元由四端口UV激光源和自动扫描机两个主要子系统组成。四端口UV激光源提供晶片的定制实时照明,可用于评估晶片表面的地形。然后,自动扫描工具将激光源穿过晶片表面,以精确测量关键特征。成像资产使用高度敏感的电荷耦合器件(CCD)相机来捕捉晶圆表面的图像。然后使用专有算法处理此数据,以精确测量晶圆上的特征的高度、大小和形状。TENCOR AIT-UV模型通过了几种行业标准协议的认证,包括TALYS(Test Automation Language for Yield Systems),一种广泛使用的晶圆计量方法。这使用户确信,设备将准确测量关键特性,这对于集成电路的持续开发和制造至关重要。AIT UV系统还提供高级报告功能,可以提供晶圆测量的详细数据,结果可以通过互联网安全处理和共享。这样可以确保过程工程师和其他人员可以访问最新信息,而不管他们的位置如何。TENCOR AIT UV是晶圆测试和计量的宝贵工具,可以对半导体晶圆上发现的关键特征提供快速、准确、详细的测量。此技术可以提供重要的见解,帮助工程师确保产品可靠性并改进生产过程。
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