二手 KLA / TENCOR AIT XP #293610165 待售

KLA/TENCOR AIT XP是一种晶圆测试和计量设备，用于分析半导体晶圆上的各种特征。它允许对晶片表面进行高分辨率成像，以及精确测量晶片的各种特征。该系统提供了一个完全集成的解决方桉,可用于手动和自动化生产环境。该单元具有广泛的特点，在晶圆测试和计量方面具有很高的精度和精确度。这包括先进的3D非接触传感和精确的高速自动对焦技术，即使在晶圆的深层也能实现精确成像。机器还利用先进的高精度扫描和图像识别能力，识别和分析晶圆表面的各种缺陷。操作员还可以选择使用手动命令来控制工具,从而实现更大的灵活性。资产还利用功能强大的基于软件的控制和分析工具来评估从模型获得的测量结果。这包括用于数据解释、统计分析、多传感器关联和缺陷分析的软件工具。此功能允许从设备向操作员自动实时反馈。该系统还采用模块化设计,可高度升级,以适应各种客户需求和不断变化的生产需求。该单元可用于执行手动和半自动过程,包括PC、控制器、固件和软件、电气机柜和传感器等各种组件。该机器还为用户提供了许多好处,例如更高的吞吐量、更高的流程生产率、更高的数据准确性以及改进的诊断和产量增强控制。所有这些功能使KLA AIT XP成为晶圆测试和计量的独特而强大的工具。