二手 KLA / TENCOR AIT XP #9047332 待售

KLA/TENCOR AIT XP是一种世界级的晶圆测试和计量设备，旨在提供高度可靠和精确的晶圆几何和地形测量。该系统是一个集成单元，旨在结合测试精度、测试速度和可编程性。它具有自动化探针加载、自监控硬件和高级算法等先进技术,可帮助实现最高性能水平。采用最新的集成机器架构，KLA AIT XP包括一台用于岩性检测的高分辨率光学工具、一台扫描隧道显微镜（STM）和一台扫描电子显微镜（SEM）。这种集成的资产体系结构为晶圆上的计量和测试提供了一个单一的平台。与市场上其他可用的系统相比,模型测量的准确性和可重复性得到了提高,这是关键优势。集成的TENCOR AIT-XP是一种基于模块化片上系统（SOC）的单元,它包括激光二极管二极管阵列,可提高精度、信噪比和吞吐量。该设备还具有高精度测量引擎,该引擎集成到系统的体系结构中,可提供快速、可靠和可重复的测量。该仪器具有自动晶片对准的可选特性，使设备能够以最高精度检测和校正错位。这有助于提供可靠和可重复的测量,同时节省时间并减少人为干预造成的错误。KLA AIT-XP的综合软件套件为用户提供了高度的灵活性和易用性。这包括预先配置的测量软件设置和从晶圆计量到测试模式生成的一系列应用程序的按需设置。该机器具有用户友好的图形用户界面（GUI），具有实时控制和数据显示功能。GUI还包括针对高级用户的自定义和分析功能。该工具包括高性能数据捕获和存储资产,有助于确保任何测试和过程的准确性和数据安全性。这包括数据捕获处理、缺陷数据库管理和内置的可追踪性。KLA/TENCOR AIT-XP为晶圆计量、测试模式生成、缺陷检测、审阅和分析等应用提供单一解决方桉。它旨在满足多种测试和测量要求,同时仍能提供准确、快速、可靠和可重复的测量。