二手 KLA / TENCOR AIT XP #9236719 待售

KLA/TENCOR AIT XP是一套晶圆测试和计量解决方桉,旨在使制造商能够收集有关其产品状况的关键数据。它旨在为半导体器件和其他相关部件提供成本效益高、准确的测试和计量。KLA AIT XP提供了广泛的先进技术，从光学检查到高级门级缺陷的使用。利用光学检测技术快速检测栅极等复杂运动部件的质量、尺寸和形状。这有助于检测潜在缺陷,节省时间和金钱。在光学检查后，门级缺陷的使用有助于识别非均匀性和过程故障。门级缺陷的使用使得测试样本之间的比较能够检测到微小的差异，这往往会导致产品性能问题。除了识别缺陷外，TENCOR AIT-XP还具有使用高级计量过程的能力。这包括使用高级曲面和轮廓测量,以及曲线、脊柱和振幅分析。这允许对新产品进行彻底测试,从而为工程师提供有关设备设计的宝贵反馈。通过研究零件的精确测量,工程师可以进行必要的修改以确保产品符合要求的规格。KLA AIT-XP还具有用户友好的图形用户界面，使操作简单高效。用户界面允许用户快速、方便地访问、分析和查看各类晶圆测试和计量测试的测试结果。用户可以轻松地识别潜在缺陷,并进行必要的过程更改以提高产品质量。总体而言,TENCOR AIT XP是一套全面的晶圆测试和计量解决方桉,使制造商能够检测潜在缺陷并进行必要的流程更改。它使制造商能够快速识别缺陷、准确测量元件,并向工程师提供有关设计过程的宝贵反馈。用户友好的GUI使得利用先进的光学检查和计量过程变得容易。