二手 KLA / TENCOR AIT XT+ #9261842 待售

KLA/TENCOR AIT XT+是一种下一代晶圆测试和计量设备,它提供高度灵敏的多通道缺陷检测功能,用于检测和解决高级节点半导体基板上的缺陷。该系统采用电光成像、业界领先的评审集群和QA Vision技术。电光成像单元扫描广泛的基板，允许对晶片进行快速和准确的检查。这允许检测晶片上的粒子、划痕、薄膜、掩蔽和其他可能造成计量误差的外来材料。业界领先的审阅群集利用高级算法检查每个晶片输出的图像数据,这些算法旨在消除错误缺陷信号,从而提高灵敏度和减少错误警报。KLA AIT XT+通过一套名为Visual AI的定制硬件和软件配备了独特的QA Vision Technology。该技术将先进的机器学习算法与传统的不同检测方法相结合，以高精度识别潜在缺陷。本机为检验实践带来智能，自动化了繁琐的目测过程，提高了发现的准确性。该工具还包括丰富的其他功能，以满足半导体制造商的测试和计量需求。它包括先进的缺陷分类、多检测器检测以及晶圆产量最大的模级分辨率。此外,它还具有自动化的过程集成、高级缺陷监控以及快速表征和分析的报告功能。TENCOR AIT XT+为最先进的晶圆测试和计量提供了优雅的解决方桉。它结合了高灵敏度、质量保证技术、先进的分类和自动化的工艺集成，使其成为寻求通过更好的晶圆生产提高产量的半导体制造商的理想选择。资产坚固、适应性强，在多种条件下提供准确的缺陷检测和计量。