二手 KLA / TENCOR AIT XUV #9145311 待售

KLA / TENCOR AIT XUV
ID: 9145311
晶圆大小: 8"
优质的: 2003
Dark field wafer particle inspection system, 8" 2003 vintage.
KLA/TENCOR AIT XUV是一种晶圆测试和计量设备,用于广泛的工业和半导体应用。它是一个专门的成像和计量系统,能够精确测量和检查各种材料和部件。KLA AIT XUV基于深紫外线(DUV)同步加速器源,利用水冷成像光学器件和先进软件产生高分辨率、非接触图像和精确测量。该单元采用了多种专门的成像技术,如光刻、扫描电子显微镜、拉曼光谱。它还可以检测性能和深度缺陷,同时提供精确的测量和表征表面特征。TENCOR AIT-XUV设计为可扩展以满足不同的要求,允许用户为其特定应用程序选择最佳性能级别。它也具有高度模块化的性质,因此用户可以根据自己的精确需求定制和配置机器。该工具还为用户提供了许多自动化和软件选项,例如位置迭加和自动故障分析。KLA AIT-XUV包括用于检查和测量关键尺寸、表面纹理和迭加精度等参数以及检查纳米级缺陷的专门工具。它还包括用于识别和分类材料特征的高级光学和分辨率。这些工具使用户能够精确分析半导体样品的微观和纳米结构。KLA/TENCOR AIT-XUV凭借其多才多艺的设计和高性能,适合广泛的工业和半导体应用。它能够精确地对精细细节和亚微米特征进行成像和表征。它的设计也是为了提供可靠和持久的操作。它提供了极好的灵活性,使其能够在许多不同的环境中使用,包括研究、生产和质量控制。
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