二手 KLA / TENCOR AIT #293642831 待售

KLA/TENCOR AIT是一种晶圆测试和计量设备，设计用于精确测量和检查半导体晶圆。该系统结合了光学和计算技术来检测结构缺陷，并提供对晶片质量的准确评估。它用高分辨率数字成像传感器捕获晶圆表面的图像，并使用高级算法处理数据。然后,该单元使用模式识别、自动分析和人类洞察力的组合来检测、分类和量化缺陷。KLA AIT机器涵盖了广泛的晶圆生产和工艺需求，包括关键尺寸的表征、迭加测量和缺陷检查。其高速光学传感器提供了详细的图像分析，以识别到纳米尺度的异常。它还能够准确、一致地提供晶圆组成和表面的数据。TENCOR AIT工具旨在促进高效的吞吐量和简化数据分析。它具有可定制的软件和开放的体系结构，允许用户根据需要添加硬件并轻松修改软件。这使得它非常适合需要快速适应和快速分析的应用，例如在先进纳米技术中发现的应用。该资产还配备了自动晶片装载机，以提高生产率，以及低噪声环境，以进行准确和可重复的测量。它还包括一个环境监测模型，确保在任何环境中的可靠性能。集成硬件和高级算法的组合也可以用来识别单个晶片之间的差异，提高产量和减少生产误差。晶圆缺陷和等离子体蚀刻速率也可以用AIT设备精确测定。KLA/TENCOR AIT是一个理想的解决方桉,适用于寻求可靠和准确测量的制造商,这些测量可以快速集成到他们的生产过程中。它旨在提供最高级别的图像质量、缺陷检测和性能。此外,该系统配置性强,可适应不同类型的晶圆生产.开放的体系结构使得集成新的硬件和软件变得容易，允许用户在需求随时间变化时修改设备。