二手 KLA / TENCOR AIT #9400274 待售

KLA/TENCOR AIT（Advanced Interactive Technology）是领先的晶圆测试和计量设备，提供有关纳米和微处理器质量的快速、可靠和有意义的信息。该系统提供高端计量、缺陷检测和分析功能,以帮助半导体制造商生产和监控集成电路。KLA AIT系统使用先进的、自动化的光学检查算法来检测晶片中的缺陷。该单元设计具有亚微米分辨率能力，提供最高精度和详细缺陷分析。TENCOR AIT创新的晶圆测试和计量技术让用户能够快速准确地分析晶圆，查明缺陷，测量特征和模式。此外,AIT系统还允许用户设置自定义检查并监控多个站点的流程,以确保质量控制。在分析晶片时，KLA/TENCOR AIT系统分别使用包括亮场、红外和紫外线在内的多种成像技术。这些技术提供了晶圆的全面视图，可以识别最具挑战性的缺陷和变化。机器的缺陷检测算法由获得专利的解密AtPixel （DAP）库提供支持,该库允许用户可视化、调查和测量微妙的模式和缺陷,否则很难检测到这些模式和缺陷。KLA AIT的软件功能强大,为用户提供了一种自动化、简化的工具操作方式。从晶圆映射和模式识别到缺陷分析和过程控制，软件允许用户提取关键数据点，更快速高效地做出准确决策。此外,该软件还具有高级分析功能,允许用户查看详细报告、创建光学模型以及生成数据驱动的见解。TENCOR AIT是一种可靠而全面的计量资产,可提供全面的缺陷检测和可靠的分析功能。它采用直观的软件和先进的成像技术,提供了晶圆的全面视图,使识别和纠正缺陷比以往任何时候都更加容易。对于半导体制造商来说，AIT是一个非常宝贵的工具，能够帮助确保其产品的最高质量水平。