二手 KLA / TENCOR Aleris Hx8500 #9281738 待售

KLA/TENCOR Aleris Hx8500晶圆测试和计量设备是一种高级自动光学检查（AOI）、缺陷审查和无损检测解决方桉,它提供了一套全面的高级测试功能。该系统经过精心设计,能够以紧凑的空间提供最高水平的吞吐量。该装置在直径可达8英寸的晶片上运行，测试面积可达三英尺。KLA Aleris Hx8500利用二维成像机检查直径8英寸以下晶片的图样。获取高分辨率图像，并使用数字镜头来支持微小特征和整体基板的测量。先进的照明工具提供了一系列光学配置,用于检测各种不同的晶圆缺陷,包括划痕、孔以及线宽、形状、深度和对准方面的缺陷。TENCOR Aleris Hx8500还配备了一个功能强大的检查引擎,可以捕获和记录晶圆数据以供审核。该资产还提供可用于支持可靠质量控制决策的统计图像分析软件。易于使用的界面允许用户快速设置和定制检查，自动化的工作流优化有助于最大限度地提高检查效率。该模型还提供了一套全面的晶圆测试能力，包括专利自动测试程序验证、护带优化、参数测试程序生成、参数扫描和故障保留以及模式缺陷检测和分析。这些功能旨在在紧凑的封装中提供最先进、最精确的晶圆测试功能。为确保晶片测试结果可靠，设备还配备了自动缺陷现场配准、配准缺陷图像捕获、全尺寸图像捕获、全晶片检测等功能。此外,系统还提供可选的AutoRX集成校准单元,以确保准确的测量结果。为确保最大效率,机器还配备了一套数据管理工具,如集中式数据库、数据记录工具和报告资产。这些功能使用户能够轻松跟踪测试结果、生成报告和维护有组织的晶圆数据存档。Aleris Hx8500 Wafer Testing&Metrology Model是一种先进的晶片测试解决方桉,旨在提供一种有效且经济高效的方法来检查和评估晶片的缺陷。设备的一整套功能提供了可靠的测试、高效的工作流优化和数据管理功能,使其成为质量控制和缺陷分析的宝贵工具。