二手 KLA / TENCOR Candela C2 #293809884 待售

KLA/TENCOR Candela C2晶片测试和计量设备是一个高度精确的自动化系统，设计用于半导体晶片的高级表面和地形表征。该设备配备了公司专有的非接触式剖面图（NCP）和扫描电子显微镜（SEM）,可提供单设备和多设备功能,能够以前所未有的精度和快速闪电速度识别晶圆的关键地形特征。KLA Candela C2的核心是KLA NCP机和SEM。NCP工具允许对地形数据进行高度精确、动态和非接触式的捕获,XY扫描分辨率精度高达0.1um。然后，SEM资产利用NCP数据提供更高层次的详细信息，以便分析关键地形特征和验证周围特征。除了提供详细的表征外，TENCOR C2还提供了一系列功能，旨在使晶圆测试和计量过程更加高效。该模型配备了高分辨率测量设备，设计用于快速检测和表征不同大小和形状的特征。这种有效的特征搜索系统，加上强大的图像分析套件，为每个特征提供了广泛的深入表征。此外，KLA/TENCOR C2配备了强大的自动图像配准单元，旨在准确、快速定位和比较多个晶片的地形特征。这台自动化机器提供了一种进行大规模晶圆级分析的有效方法。KLA C2晶片测试和计量工具为先进的半导体晶片表征提供了全面的解决方桉。资产专有的NCP模型,加上SEM的高速和精确度,允许以前所未有的精度和速度对动态、非接触曲面和地形进行表征。自动图像配准和特征搜索设备进一步提高了系统的性能，允许对多个晶片进行高效的大规模分析。C2是半导体晶圆开发和测试的宝贵工具。