二手 KLA / TENCOR D6 #9206785 待售

KLA/TENCOR D6是驱动多层缺陷检测应用行业标准的晶圆测试和计量设备。它的专有技术能够检测超出其他检查系统传统分辨率的缺陷。先进的KLA D6系统同时使用双光束和四光束光头来测量临界层内的缺陷,并检测标准测试设备通常看不到的潜在电气故障机制。该设备具有10至300 μ m的可选光斑尺寸,可为用户提供检查小型和大型印刷电路线路的选项。这允许用户针对不同的应用需求进行各种检查。TENCOR D6还包括一系列性能增强功能,如高度自动化、软件用户友好界面以及强大的分析功能。用户友好的图形用户界面（GUI）简化了设置和操作的步骤。此外，其内置软件能力提供了强大的分析、模式识别和试点检测功能；使机器能够识别晶片上不同位置的重复特征。此外,KLA专有的Quadruple-Beam技术能够对小颗粒、临界线缺陷以及潜在的电气故障机制（包括桥接、污垢、跨层/绝缘层）进行高度可预测的检测。此外，该工具以其获得专利的CoreView技术支持对最高层的三维检查。D6资产支持所有行业标准晶片盒尺寸,使其成为IT、消费者和晶片级封装（WLP）测试的通用选项。它的总标线吞吐量为950标线/小时,该模型为各种应用程序提供了多种吞吐量选项。TENCOR通过KLA/TENCOR D6设备提供成熟可靠的封装，使其成为许多计量和晶圆缺陷检测应用的综合选择。