二手 KLA / TENCOR FLX-2908 #293587318 待售

KLA/TENCOR FLX-2908是一种用于测量和监测各种半导体参数的"晶圆测试和计量"设备。该系统包括一些模块，这些模块旨在处理各种不同半导体工艺和基板上的测试和测量，目的是为验证设备性能提供一个准确和可靠的工具。KLA FLX-2908单元使用高分辨率成像机捕获晶圆表面的图像，提供关于其特征和组成的准确和详细的信息，允许在一系列几何方向上进行精确和专门的计量测量。包括的FTIR光谱模块测量晶圆试验的一系列参数，如厚度和钝化层均匀性、材料组成和电阻率。TENCOR FLX 2908工具配备了用于体积缺陷和非容量缺陷检测的高级算法。这些算法基于纹理和光发射图的评估以及材料光学特性的验证。此外,可以将资产设置为以可用的最高速度扫描晶片,使其成为在生产过程中测试大量晶片的理想选择。TENCOR FLX-2908的特性可以量身定制，以满足每个用户和流程的个别测试要求。包含的材料鉴定工具箱有助于确保结果符合所需的标准,从而在必要时轻松快速调整设置。KLA/TENCOR FLX 2908还能够进行数据跟踪，允许用户保存和分析以往测试的结果。这使用户能够比较不同的测试并有效跟踪其进程的进度。此外，这些结果易于进一步分析，可用于基于数据的决策，帮助用户更有效地管理整个晶圆过程。总体而言，FLX-2908是任何参与半导体开发和生产的人的宝贵工具，为测试和监测各种材料和工艺提供了易于使用和高质量的解决方桉。该模型的强大特性，加上其鲁棒性和灵活性，使其成为任何晶圆测试和计量要求的理想选择。