二手 KLA / TENCOR FT-750 #293750959 待售

KLA/TENCOR FT-750晶片测试和计量设备是一个通用、自动化、完整的计量平台，用于检测和测试高密度薄晶片设备。KLA FT-750系统专为当今半导体行业中的先进IC设计和设备制造过程而设计,可提供卓越的精度、精确度和吞吐量。这种强大、可扩展的设备可优化吞吐量和成本,从而缩短测试时间并提高产品产量。TENCOR FT 750机器采用了多种计量工具，以确保测试和分析先进IC的薄IC、薄膜层和其他特性的最高质量。这包括功能强大的2D Optical Profiler测量特征深度和直径，CD-SEM显微镜测量线宽和最小线缘粗糙度（LER），以及原子力显微镜测量表面地形。TENCOR FT-750还操作了多种高分辨率探测技术，如电像力显微镜（EIFM）和开尔文探针显微镜，在地下水平测量器件性能。除了先进的计量功能外，FT 750还提供了许多功能来加快测试和计量过程。自动检查工具通过简化数据分析过程来帮助提高吞吐量,并且自动设备对齐功能消除了手动对齐的需要并提高了产量。工具固件也可以用新版本进行更新,以提供更快、更准确的测试结果。KLA FT 750具有易于使用、直观的用户界面,是一种极其灵活、可靠且高效的晶圆测试和计量资产。操作员可以节省时间并确保获得最佳效果,因为可以创建多种配置以适应各种设备类型和应用,如翻转芯片设备、光电子设备和MEMS。用户可以选择诸如特征大小和公差、设备几何和示例配置等参数,以产生最准确的结果。总体而言，KLA/TENCOR FT 750为晶圆测试和计量提供了最高水平的精度和吞吐量。其优越的图像质量、可扩展性和易于使用的用户界面使其成为IC开发和制造的理想模型。它结合了计量工具、自动属性和设备对齐能力,为测试和计量过程增加了显着的效率,从而缩短了测试时间并提高了产品产量。