二手 KLA / TENCOR FT-750 #9185317 待售

KLA/TENCOR FT-750是一种先进的晶圆测试和计量设备，设计用于监测集成电路在生产过程中的性能和质量。该系统基于光学非接触技术，提供高精度、性价比和批量测试能力。KLA FT-750非常适合用于光电和光子IC、MEM传感器和半导体元件的先进设备和电路制造工艺。TENCOR FT 750设计用于测量和监控晶片在生产过程中的缺陷。这是利用其专有的多波长背光、扫描光学和像素矩阵区域成像来完成的，耦合了每台设备的均匀和独特测量的特点。这确保用户能够准确检测到任何电气缺陷,如短裤、打开、损坏的通风孔和铜短裤,从而确保生产质量。此外,KLA FT 750能够快速重复扫描和独立测量一系列参数,以识别特定缺陷并快速评估流程性能。该单元能够测量高级节点的参数,甚至高达7nm及以下。它以最小的特征尺寸提供检查精度,提供快速的视觉图像,并为各种集成电路光电探测器、电阻器、电容器和其他组件提供高分辨率分析。FT 750具有易于使用的功能,包括用户定义的自动测试设置、针对多个传感参数的自动设置、标准晶片校准和快速测试执行。此外，该机还配备了交叉偏振分析、高对比度和低对比度检测、地形分析、智能缺陷分类、自动缺陷识别等综合图像分析工具。而且，该工具设计用于批量测试，为大批量生产晶片提供了快速高效的解决方桉。KLA/TENCOR FT 750还配备了先进的软件工具，可用于实时分析数据，以及准备简单或复杂的报告。该资产与各种主机计算机系统和第三方软件兼容，进一步扩展用户的分析和报告能力。综上所述，FT-750是一个顶级的晶圆测试和计量模型，设计用于快速详细的检查和缺陷识别集成电路在生产过程中。设备提供的智能自动化工具和全面分析使用户能够准确、一致地检测和监控缺陷，其批量测试能力使其成为大规模生产的理想选择。