二手 KLA / TENCOR M-Gage 300 #293744534 待售

KLA/TENCOR/PROMETRIX M-Gage 300是一种高效的晶圆测试和计量设备。为用于半导体制造和研究而开发的KLA M-Gage 300提供快速、精确的晶圆测量,同时与其他工具和系统无缝运行。该系统围绕直观的图形用户界面（GUI）进行设计,该界面使用户能够以最少的输入登录并创建用于测试和计量的自定义程序。TENCOR M-Gage 300具有内置智能，使其能够快速识别与测试晶圆属性相关的模式。这使得该单元在产生可重复结果时非常可靠。PROMETRIX M-Gage 300利用先进的光度成像进行晶圆检查和分析。利用先进的光照、图像感测和基于软件的方法相结合，该机能够以极高的精度检测晶圆上的变化等表面缺陷。它的设计还允许比以往任何时候都更快速、更准确地执行特定的测试,例如临界尺寸、蚀刻深度和平坦度。该工具的光谱光学测量（SOM）功能允许捕获晶圆的高度精确的图像，允许更大的光谱测量阵列。开发者可以利用光谱数据创建晶圆的深度、颜色和材料图，使他们能够精确测量表面特性。这项技术使用户能够找到可能不会被发现的问题,并允许用户在问题成为主要问题之前修复问题。资产还包括计量功能，使用户能够验证晶圆的厚度和组成。该工具集为用户提供了精确测量关键因素的能力，如单个金属、金属绝缘体、晶体管层和氧化物沉积物的覆盖。M-Gage 300对这些区域提供了高度精确的检查，允许用户确保最高级别的均匀性。KLA/TENCOR/PROMETRIX M-Gage 300是晶圆测试和计量的强大可靠工具；为用户提供准确测量晶片关键特性的能力。其强大的设计使用户能够快速识别图案和表面缺陷。光谱光学测量（SOM）和计量能力使用户能够以极高的精度精确测量表面特性和其他关键因素。使用KLA M-Gage 300,用户可以确保他们的晶片能够以最短的时间和精力投入生产。