二手 KLA / TENCOR P-4 #9155534 待售

KLA/TENCOR P-4是一种晶圆测试和计量设备，设计用于测量各种半导体晶圆上的关键参数。该系统用于多个行业的故障分析、表征和过程控制。该单元具有一个能够在单个晶片上的多个位置进行精确测量的自动化级。该机器还包含一个集成的纳米操作器，用于动手测量晶圆特征，包括探测和电极对准、通过互连或通过栅极结构。综合视觉工具在整个视野中进行准确和可重复的计量和材料测量。KLA P-4配备了测量晶圆反射率、电阻率和介电常数的光谱资产。使用高级算法,模型能够实时检测和报告电阻值.集成图像识别技术还能够检测晶圆上的各种特征，从而自动进行测量和分析。此外，该设备还能够测量转角半径、微电镜、通道和电极等特征。集成数据采集系统可以以可定制的方式存储、分析和报告数据。它被编程为识别和区分不同类型的故障，允许精确的故障分析。该设备还能够测量不同尺寸的模具,为用户提供灵活性。TENCOR P-4机器使用先进的算法和稳健的设计,使其能够提供准确可靠的结果。该工具值得注意的特点是可重复性、速度和测量精度。该资产旨在在恶劣的环境中，包括在洁净室中发挥作用，并能在极端温度和辐射水平下保持性能。此外，该模型还提供了保护人员和设备本身免受伤害的安全特性。P-4系统符合或超过所有适用的行业标准,包括SEMI、ESD和SEMATECH。该单元的设计易于与大多数现有实验室基础设施集成，使其成为任何半导体晶圆计量和测试设置的绝佳补充。