二手 KLA / TENCOR P-6 #293651885 待售
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KLA/TENCOR P-6是一种前沿晶片测试和计量设备，设计用于测量和表征半导体晶片上的薄膜，精度和精度无与伦比。该系统利用先进的光学技术，包括明场、暗场和偏振成像以及光谱和寿命测量，收集晶圆级数据。这些数据随后被用于分析各种晶圆参数的性能，如厚度、表面粗糙度、晶粒尺寸、反射率、散射和荧光。KLA P-6旨在以高低的生产速度工作，每小时达6,000晶圆。此外，该单元还配备了双面传感器，使其能够同时从晶圆的两侧收集数据。因此,可以在一半的时间内收集两倍的数据,从而使制造商能够降低成本并获得更快的结果。TENCOR P6具有多种计量技术,并提供单测试和多测试功能。单一测试功能允许用户选择一种特定的测试类型（例如厚度）,并使用计算机来测量该测试。另一方面,多测试功能允许用户选择多种测试类型（例如厚度和晶粒大小）,并使用该工具同时测量所有测试类型。P6提供用户友好的界面、灵活的配置选项和强大的报告功能。资产的直观控制软件引导用户完成过程排序,使他们能够快速轻松地自定义测试要求。此外，该模型还包括用于特定晶圆计量任务的各种专门软件应用。这些应用程序使用户能够快速为其应用程序选择最佳计量方法,创建自定义测试,并实时访问关键结果。KLA P6还提供了一些增值功能,使其成为一个非常宝贵的工具。其中包括先进的数据记录设备、集成的晶圆跟踪系统、自动晶圆处理以及用于多站点测量的自动对准。结合这些功能,可确保设备易于操作,并能够快速准确地为用户提供所需的数据。P-6是一种经验丰富且可靠的晶圆测试和计量机器，用于多种行业，包括航空航天、制造、半导体和电子。对半导体薄膜进行精确、可重复和可靠的测量是一种行之有效的方法。KLA/TENCOR P6以其尖端的技术、无与伦比的精确度和精确度、灵活的报告功能以及实时的结果,是任何希望改进其晶圆测试和计量应用的组织必不可少的工具。
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